İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm
Giriş yap Kayıt ol

Akademisyen

ŞEFİK SÜZER

Profesör

İhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi Fen Fakültesi Kimya Bölümü

Araştırma konuları OpenAlex
  1. Ana Dal Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı
  2. Yan Dal Kimya
Anahtar kelimeler YÖKSİS
Makale 44 YÖKSİS 44 · OpenAlex 0 Toplam atıf 2.460 h-indeks 28 · OpenAlex Q1 makale 40 Scopus · WoS Q1 27 Top %2 dünya sırası #131.430 Stanford / Elsevier 2026 En iyi alan sırası #1.113 / 11.969 Ana dal · üst %9,3 Ortak yazar 6 1 Türk kurumu

Atıf etkisi

OpenAlex YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşen: 44 + YÖKSİS · ortak yazar kaydı: 21
h-indeks 28 Türkiye yüzdelik dilimi: 98 Üniversitesinde h-indekse göre 20. / 236
i10-indeks
54
Toplam atıf
2.460
Türkiye’de üst %1,8
Makale başına
37,8
FWCI
1,82
1,00 = dünya ortalaması
Dünyada üst %1
1
Dünyada üst %10
11

En çok atıf alan makaleleri

  1. Graphene-Based Adaptive Thermal Camouflage 2018 dünyada üst %1 422 atıf
  2. Synthesis, characterization and antibacterial investigation of silver-copper nanoalloys 2011 141 atıf
  3. XPS studies of SiO2/Si system under external bias 2003 dünyada üst %10 129 atıf
Nasıl hesaplanır?

h-indeks ve atıflar, bu akademisyenin YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşenlerin atıf sayılarından hesaplanır (Google Scholar, WoS veya Scopus değildir). Eşleşmeyen makalelerin atıfı dahil değildir. Ortak yazarların YÖKSİS kayıtlarında bu akademisyenin YÖK kimliğiyle etiketlenen 21 makale (540 atıf) yalnızca atıf, h-indeks ve i10 hesabına katılır; makale sayıları, yüzdelik dilimler ve sıralamalar kendi YÖKSİS listesinden hesaplanır.

Dünyanın en etkili %2’lik bilim insanları

Stanford / Elsevier · 2026
Dünya sırası
131.430
kariyer listesi
Bileşik c-skoru
3.38
öz atıflar hariç
h-indeks
36
hm 18.8
Alt alan sırası
2332
Chemical Physics

Stanford Üniversitesi ve Elsevier’in Scopus verisiyle hazırladığı 2026 listesi (v9). Öz atıfsız göstergeler esas alınır. Türkiye listesini gör →

Alan sıralaması

YÖKSİS ?
Anahtar kelime sıralamaları 3

İşbirliği ağı

YÖKSİS eser kayıtlarındaki yazar listelerinden. Aynı eserin mükerrer kayıtları bir kez sayılır; kurumlar ortak yazarların YÖKSİS’teki güncel kurumudur.

Ortak yazar
6
akaturk profili olan
2
Ulusal kurum
1
Ortak yazarlı eser
%5

Ortak çalıştığı akademisyenler 2

  1. BURAK ÜLGÜT Profesör · İhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi aynı üniversite 2
  2. YUNUS EMRE TÜRKMEN Doçent · Orta Doğu Teknik Üniversitesi 1

Ulusal işbirliği 1 kurum

Kurum içi2 ortak eser · İhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi

  1. Orta Doğu Teknik Üniversitesi 1 eser · 1 akademisyen

Diğer ortak yazarlar (yabancı yazarlar dahil) 4

Coskun KocabasMerve Taner CamciP. Aydogan GokturkSelin Ezgi Dönmez

akaturk profili olmayan yazarlar (yabancı araştırmacılar, emekli/ayrılmış akademisyenler, öğrenciler, klinisyenler) isim yazımına göre birleştirilir; “Güllüce M.” gibi kısaltmalar tek bir tam adla eşleşiyorsa o kişiye eklenir.

Dizinler ve atıf yüzdelikleri

?
TR Index 0 makale
OpenAlex atıf yüzdelik
Üst %11
Üst %108
Ort. · n 44 %76,6
Diğer sayımlar

Scopus (SJR)

  • YÖKSİS satırı 44

WoS (JCR)

  • YÖKSİS satırı 44

Makaleler

YÖKSİS ve OpenAlex kaynak ayrımıyla makaleler; quartile ve TR Index ile daraltabilirsiniz.

44makale

Yayını olan dergiler

27 dergi

Daralt

Scopus (SJR)
Q140 Q23 Q31 Q40
WoS (JCR)
Q127 Q215 Q32 Q40
TR Index
0makale

Makale listesi

  1. 2019 Chemically addressed switching measurements in graphene electrode memristive devices using in situ XPS FARADAY DISCUSSIONS DOI 10.1039/c8fd00129d YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 65.9%
  2. 2019 AC Electrowetting Modulation of Low-Volatile Liquids Probed by XPS: Dipolar vs Ionic Screening LANGMUIR DOI 10.1021/acs.langmuir.8b04099 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 64.2%
  3. 2018 Graphene-Based Adaptive Thermal Camouflage NANO LETTERS DOI 10.1021/acs.nanolett.8b01746 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex üst %1 OpenAlex 99.8%
  4. 2018 DC Electrowetting of Nonaqueous Liquid Revisited by XPS LANGMUIR DOI 10.1021/acs.langmuir.8b01314 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 67.0%
  5. 2018 In Situ XPS Reveals Voltage Driven Asymmetric Ion Movement of an Ionic Liquid through the Pores of a Multilayer Graphene Electrode JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C DOI 10.1021/acs.jpcc.8b02759 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 83.3%
  6. 2018 XPS investigation of the vacuum interface of an ionic liquid under triangular electrical excitation for slow transients Analytical Methods DOI 10.1039/C8AY01488D YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 39.8%
  7. 2017 Raman and X-Ray photoelectron spectroscopic studies of graphene devices for identification of doping APPLIED SURFACE SCIENCE DOI 10.1016/j.apsusc.2017.07.097 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 68.9%
  8. 2017 Optical and XPS evidence for the electrochemical generation of an N-heterocyclic carbene and its CS2 adduct from the ionic liquid [bmim][PF6] NEW JOURNAL OF CHEMISTRY DOI 10.1039/c7nj01996c YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 70.9%
  9. 2016 The effect of polar end of long-chain fluorocarbon oligomers in promoting the superamphiphobic property over multi-scale rough Al alloy surfaces APPLIED SURFACE SCIENCE DOI 10.1016/j.apsusc.2016.04.050 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex üst %10 OpenAlex 90.7%
  10. 2016 XPS enables visualization of electrode potential screening in an ionic liquid medium with temporal-and lateral-resolution PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS DOI 10.1039/c6cp04933h YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex üst %10 OpenAlex 91.3%
  11. 2016 Monitoring the operation of a graphene transistor in an integrated circuit by XPS ORGANIC ELECTRONICS DOI 10.1016/j.orgel.2016.06.027 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 72.4%
  12. 2015 Voltage contrast X-ray photoelectron spectroscopy reveals graphene-substrate interaction in graphene devices fabricated on the C- and Si-faces of SiC APPLIED PHYSICS LETTERS DOI 10.1063/1.4931725 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 60.4%
  13. 2015 Chemical Visualization of a GaN p-n junction by XPS SCIENTIFIC REPORTS DOI 10.1038/srep14091 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 78.6%
  14. 2014 Gate-Tunable Photoemission from Graphene Transistors NANO LETTERS DOI 10.1021/nl500842y YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 88.7%
  15. 2014 Tribological interaction between polytetrafluoroethylene and silicon oxide surfaces JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS DOI 10.1063/1.4898384 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 81.8%
  16. 2014 XPS for probing the dynamics of surface voltage and photovoltage in GaN APPLIED SURFACE SCIENCE DOI 10.1016/j.apsusc.2014.06.089 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 80.4%
  17. 2013 Synthesis and Characterization of Zn(1-x)NixAl2O4 Spinels as a New Heterogeneous Catalyst of Biginelli’xxs Reaction BULLETIN OF THE KOREAN CHEMICAL SOCIETY DOI 10.5012/bkcs.2013.34.5.1445 YÖKSİS SJR Q3 JCR Q3 OpenAlex 63.3%
  18. 2013 Band-Bending at Buried SiO2/Si Interface as Probed by XPS ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES DOI 10.1021/am401696e YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 84.0%
  19. 2013 XPS for chemical- and charge-sensitive analyses THIN SOLID FILMS DOI 10.1016/j.tsf.2013.02.002 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex üst %10 OpenAlex 94.3%
  20. 2013 CeOx/Al2O3 thin films on stainless steel substrate - Dynamical X-ray photoelectron spectroscopy investigations THIN SOLID FILMS DOI 10.1016/j.tsf.2013.03.049 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 54.8%

← Akademisyenlere dön