Akademisyen
ENES ATAÇ
Araştırma Görevlisi
İzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü İzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü Mühendislik Fakültesi
Anahtar kelimeler
YÖKSİS
Atıf etkisi
OpenAlex YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşen: 14
h-indeks
4
Türkiye yüzdelik dilimi: 53
Üniversitesinde h-indekse göre 217. / 405
- i10-indeks
- 0
- Toplam atıf
- 31 Türkiye’de üst %55
- Makale başına
- 2,2
- FWCI
- 1,56 1,00 = dünya ortalaması
- Dünyada üst %1
- 0
- Dünyada üst %10
- 3
En çok atıf alan makaleleri
- Papercraft Doppler Radar Measurements Based on Covariance Eigenvalue Spectrum-Assisted Empirical Mode Decomposition
- Subwavelength thickness characterization of curved dielectric films exploiting spatially structured entangled photons
- Nanoscale curved dielectric film characterization beyond diffraction limits using spatially structured illumination
Nasıl hesaplanır?
h-indeks ve atıflar, bu akademisyenin YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşenlerin atıf sayılarından hesaplanır (Google Scholar, WoS veya Scopus değildir). Eşleşmeyen makalelerin atıfı dahil değildir. OpenAlex yazar profilindeki h-indeks: 4.
Alan sıralaması
YÖKSİS ?-
Ana dal Mühendislik Temel AlanıPuan sırası #7.892/ 24.860 üst %31,7 Üniversitede #91/ 258Puan 13,15 dergi 12,4 · OA ek 0,75
- Makale sırası10.407/24.860
- Scopus sırası7.188/24.860
- WoS sırası6.920/24.860
- YÖKSİS14
- Scopus14
- WoS14
-
Yan dal Elektrik-Elektronik ve Haberleşme MühendisliğiPuan sırası #834/ 2.948 üst %28,3 Üniversitede #10/ 24Puan 13,15 dergi 12,4 · OA ek 0,75
- Makale sırası1.185/2.948
- Scopus sırası766/2.948
- WoS sırası729/2.948
- YÖKSİS14
- Scopus14
- WoS14
Anahtar kelime sıralamaları 3
-
Kel. Elektromanyetik- Mikrodalga ve Anten TeknolojileriPuan sırası #128/ 342 üst %37,4 Üniversitede #2/ 2Puan 13,15 dergi 12,4 · OA ek 0,75
-
Kel. Kuantum TeknolojileriPuan sırası #6/ 11 üst %54,5 Üniversitede #1/ 1Puan 13,15 dergi 12,4 · OA ek 0,75
-
Kel. Optik- FotonikPuan sırası #62/ 136 üst %45,6 Üniversitede #3/ 3Puan 13,15 dergi 12,4 · OA ek 0,75
İşbirliği ağı
YÖKSİS eser kayıtlarındaki yazar listelerinden. Aynı eserin mükerrer kayıtları bir kez sayılır; kurumlar ortak yazarların YÖKSİS’teki güncel kurumudur.
- Ortak yazar
- 4
- akaturk profili olan
- 4
- Ulusal kurum
- 2
- Ortak yazarlı eser
- %100
Ortak çalıştığı akademisyenler 4
- ANIL KARATAY Doktor Öğretim Üyesi · İzmir Demokrasi Üniversitesi 11
- MEHMET SALİH DİNLEYİCİ Profesör · İzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü aynı üniversite 6
- FATİH ONAY Araştırma Görevlisi · Bursa Teknik Üniversitesi 2
- FATİH YAMAN Doçent · İzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü aynı üniversite 2
Ulusal işbirliği 2 kurum
Kurum içi7 ortak eser · İzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü
- İzmir Demokrasi Üniversitesi 11 eser · 1 akademisyen
- Bursa Teknik Üniversitesi 2 eser · 1 akademisyen
Dizinler ve atıf yüzdelikleri
?Üst %10
Üst %103
Ort. · n 14
%49,2
Diğer sayımlar
Scopus (SJR)
- YÖKSİS satırı 14
WoS (JCR)
- YÖKSİS satırı 14
Makaleler
YÖKSİS ve OpenAlex kaynak ayrımıyla makaleler; quartile ve TR Index ile daraltabilirsiniz.
Yayını olan dergiler
10 dergi
- IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 3
- Journal of Electromagnetic Waves and Applications 2
- Measurement Science and Technology 2
- ISSN 1434-8411 1
- IEEE Sensors Journal 1
- IEEE Transactions on Antennas and Propagation 1
- Journal of the Optical Society of America B: Optical Physics 1
- Optical Fiber Technology 1
- Optics and Laser Technology 1
- Physica Scripta 1
Daralt
Makale listesi
- 2026 Coherent Detection of Fiber-Induced Phase Perturbations for High-Sensitivity Refractive Index Sensing of Transparent Liquids YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 32.8%
- 2026 Quasi two-way shape-memory alloy-excited reconfigurable cavity for in-pipe water monitoring YÖKSİS SJR Q2 JCR Q1 OpenAlex 15.6%
- 2026 Highly sensitive relative humidity sensor based on confocal phase diffraction from dielectric film-coated optical fiber array YÖKSİS SJR Q3 JCR Q4 OpenAlex 22.1%
- 2026 High-Sensitivity Thickness Measurement of Transparent Optical Thin Films via EEMD-Based Fresnel Phase Diffraction YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 23.7%
- 2025 Improving Doppler radar performance through optically-reconfigurable unequal power division with semi-analytical approach YÖKSİS SJR Q3 JCR Q4 OpenAlex 39.4%
- 2025 Thermally reconfigurable quad-port MIMO antenna with independent frequency tuning YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2 OpenAlex üst %10 OpenAlex 97.5%
- 2025 Homodyne detection based confocal phase diffraction method for thickness characterization of ultra-thin dielectric films coated on optical fibers YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 75.2%
- 2025 Practical and Cost-Effective Approach for Thermal Light Characterization Based on Confined Area Measurements YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 10.6%
- 2025 Papercraft Doppler Radar Measurements Based on Covariance Eigenvalue Spectrum-Assisted Empirical Mode Decomposition YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex üst %10 OpenAlex 91.5%
- 2025 Spiral-shaped dual-port microstrip antenna for 5G/6G applications with wideband-to-narrowband transition using shape-memory alloy YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2 OpenAlex üst %10 OpenAlex 95.7%
- 2024 Toward Cost-Effective and Lightweight Doppler Radars: Papercraft-Based Components and Comparisons With Aluminum and 3-D Printed Alternatives YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 53.6%
- 2023 Enhancing thickness determination of nanoscale dielectric films in phase diffraction-based optical characterization systems with radial basis function neural networks YÖKSİS SJR Q2 JCR Q1 OpenAlex 42.0%
- 2023 Subwavelength thickness characterization of curved dielectric films exploiting spatially structured entangled photons YÖKSİS SJR Q2 JCR Q3 OpenAlex 45.5%
- 2020 Nanoscale curved dielectric film characterization beyond diffraction limits using spatially structured illumination YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2 OpenAlex 44.3%